Thông số kỹ thuật

Thông số kỹ thuật:

- Nguồn phát tia X:

   + Công suất tối đa: 600W (có tùy chọn 300W)

   + Độ ổn định đầu ra: ≤25ppm/hr sau 2 giờ bật máy

   + Điện áp lớn nhất: 40kV (có tùy chọn 30kV)

   + Dòng điện lớn nhất: 15mA (có tùy chọn 10m)

   + Bước nhảy điện áp: 0,1kV

   + Bước nhảy dòng điện: 0,1mA

   + Gợn sóng ≤1%rms tại tần số trên 20 kHz, 0.1%rms với tần số dưới 20 kHz

   + Gia nhiệt trước và quá trình ram: điều khiển tự động 

   + Nguồn đầu vào: 1 pha, 230 Vac +/-10%, 50 hoặc 60 Hz 

- Ống phóng tia X: 

   + Loại ống phóng: kính (tùy chọn gốm), Anode bằng Cu

   + Tiêu điểm: 0.4 x 8 mm LFF

   + Công suất tối đa: 600 kW

- Bộ giác kế (đo góc):

   + Cấu hình: Theta - 2 Theta thẳng đứng

   + Đường kính vòng tròn đo: 150mm

   + Dải quét góc phương thẳng đứng: - 5° < 2 Theta < + 145° 

   + Bước góc nhỏ nhất: 0.005°

   + Độ tái lập góc: +/- 0.001°

   + Độ chính xác: +/- 0.01

   + Kiểu vận hành: quét liên tục, quét từng bước, quét Theta hoặc 2 Theta, quét nhanh

   + Khe phân tán biến thiên: 0 - 4°

   + Khe nhận biến thiên: 0 - 4°

   + Khe soller: 2.3°

- Bộ thu tín hiệu (detector): 

   + Kiểu: đếm điểm nhấp nháy SC (có tùy chọn YAP (Ce))

   + Tốc độ đếm: 10(5) cps (Nal); 2 x 10(7) cps (Yap(Ce))

- Vỏ máy:

   + Kích thước: WxDxH 600x50x750 mm

   + Khối lượng: 130kg

   + Rò rỉ tia X: < 1 mSv/Year (bảo vệ đầy đủ theo tiêu chuẩn quốc tế)

- Bộ phận xử lý dữ liệu:

   + Kết nối với máy tính

   + Những bộ phận được điều khiển bằng máy tính: nguồn phát tia X, giác kế, bộ giữ mẫu, bộ thu tín hiệu

   + Phần mềm xử lý dữ liệu: Polynomial least squares smoothing. Fourier smoothing. Search for Peaks (automatic and manual). Spline background subtraction. Single peak analysis (area, FWHM, centroid, background). Marquardt fit (with pseudo-Voigt and Pearson VII curves, Ka2 contribution, weighted sum of squares). Sum and multiply by a constant. Scale normalization. Zoom. Graphical windows. Overlap and comparison of diffractograms. Multiview function. Cursor scan. Creation of graphic files .BMP. ICDD-PDF2 Card Overlap. Creation of calibration curves. Analysis of unknown samples. Qualitative and quantitative phase analysis. Rietveld analysis, crystalline structural analysis, crystallite size and lattice strain, crystallinity calculation

Ứng dụng:

- Phân tích pha định tính và định lượng

- Định lượng austenit dư - auxtenit dư

- Tính toán sự kết tinh và kích thước tinh thể