Thông số kỹ thuật

Đặc điểm:

- TX 2000 là thiết bị phòng thí nghiệm hoàn hảo để phân tích định lượng nhiều nguyên tố hàm lượng vết sử dụng nguyên lý phản xạ toàn phần huỳnh quang tia X.

- TXRF có nguyên lý giống như XRF thông thường, giảm thiểu hay khử toàn bộ ảnh hưởng của ma trận nền, cho phép phân tích đồng thời nhiều nguyên tố hàm lượng vết, giới hạn phát hiện dưới xuống tới ppb, dải nguyên tố từ Na đến Pu.

- Được trang bị động cơ bước bộ mã hóa quang học, đảm bảo độ chính xác tuyệt đối góc quét

- Tự động chuyển đổi chùm tia sơ cấp (MoKa, WLa/Lb và bremsstrahlung 33 keV) sử dụng ống phát ta X anode kép Mo/W

- Bộ thu tín hiệu SDD với độ phân giải 124eV

- Giảm thiểu khoảng cách giữa mẫu với bộ thu tín hiệu

- Giới hạn phát hiện cho trên 50 nguyên tố dưới 10pg

- Có thêm tùy chọn Heli để cải thiện giới hạn phát hiện cho nguyên tố nhẹ

- Giới hạn phát hiện cho một số nguyên tố đến ppt

Thông số kỹ thuật:

- Bộ phát tia X: 

   + Công suất đầu ra tối đa: 3kW, tùy chọn thêm 4kW

   + Độ ổn định đầu ra: < 0,01%

   + Điện áp đầu ra lớn nhất: 60kV

   + Dòng điện đầu ra lớn nhất: 60 mA (tùy chọn thêm 80mA)

   + Bước điện áp: 0,1kV

   + Bước dòng điện: 0,1mA

   + Điện áp vào: 220 Vac +/-10%, 50 or 60 Hz, 1 pha

   + Kích thước: Rộng 48,3cm x Cao 13,3cm x Sâu 56cm

- Ống phóng tia X: 

   + Tiêu cự: 0,4 x 12 mm

   + Công suất đầu ra lớn nhất: 2,5 kW

- Đơn sắc đa lớp:

   + Kiểu: Si/W

   + Sự phản xạ: 80%

- Bộ đưa mẫu tự động: 12 cho TXRF, 1 cho EDXRF (45⁰)

- Bộ thu tín hiệu:

   + Kiểu: SDD

   + Diện tích làm việc: 30 mm2 (10, 50, 100 là các tùy chọn thêm)

   + Độ phân giải năng lượng: 1ms