Thông số kỹ thuật

Đặc điểm:

- Là máy phù hợp nhất để phân tích tổ chức pha, cấu trúc tinh thể mẫu bột

- Máy có thể được trang bị thêm nhiều tùy chọn cũng như thiết kế tùy biến theo yêu cầu

- Tốc độ quét rất cao: 1000⁰/phút

- Độ tái lập góc rất chính xác: +/- 0.0001°

- Đo đạc nhanh, kết quả tin cậy

- Nguồn phát tia X độ ổn định rất cao

- Có thể tự động chuyển đổi từ kiểu xuyên qua sang kiểu phản xạ 

- Có nhiều bộ thu tín hiệu: kiểu SC, Silicon strip và tán xạ năng lượng

Thông số kỹ thuật:

- Nguồn phát tia X:

   + Công suất tối đa: 3kW (có tùy chọn 4kW)

   + Độ ổn định đầu ra: ≤0,01% (khi dao động nguồn đầu vào < 10%)

   + Điện áp lớn nhất: 60kV  

   + Dòng điện lớn nhất: 60mA (có tùy chọn 80m)

   + Bước nhảy điện áp: 0,1kV

   + Bước nhảy dòng điện: 0,1mA

   + Gợn sóng ≤0.03%rms tại tần số dưới 1 kHz, 0.75%rms với tần số trên 1 kHz

   + Gia nhiệt trước và quá trình ram: điều khiển tự động 

   + Nguồn đầu vào: 1 pha, 220 Vac +/-10%, 50 hoặc 60 Hz 

- Ống phóng tia X: 

   + Loại ống phóng: kính (tùy chọn gốm), Anode bằng Cu, FF

   + Tiêu điểm: 0.4 x 12 mm LFF

   + Công suất tối đa: 3 kW

- Bộ giác kế (đo góc):

   + Cấu hình: Theta - 2 Theta thẳng đứng

   + Đường kính vòng tròn đo: 350 - 400mm

   + Dải quét góc phương thẳng đứng: - 60° < 2 Theta < + 168°

   + Dải quét góc phương ngang: - 110° < 2 Theta < + 168° 

   + Bước góc nhỏ nhất: 0.0001°

   + Độ tái lập góc: +/- 0.0001°

   + Kiểu vận hành: quét liên tục, quét từng bước, quét Theta hoặc 2 Theta, quét nhanh, dao động trục Theta

   + Khe phân tán biến thiên: 0 - 4°

   + Khe chống phân tán biến thiên: 0 - 4°

   + Khe nhận biến thiên: 0 - 4°

   + Khe soller: 2°

- Bộ thu tín hiệu (detector): 

   + Kiểu: đếm điểm nhấp nháy SC (có tùy chọn YAP (Ce), multistrip)

   + Tốc độ đếm: 2 x 10(6) cps (Nal); 2 x 10(7) cps (Yap(Ce))

- Vỏ máy:

   + Kích thước: WxDxH 850x750x1680 mm

   + Rò rỉ tia X: < 1 mSv/Year (bảo vệ đầy đủ theo tiêu chuẩn quốc tế)

- Bộ phận xử lý dữ liệu:

   + Kết nối với máy tính

   + Những bộ phận được điều khiển bằng máy tính: nguồn phát tia X, giác kế, bộ giữ mẫu, bộ thu tín hiệu

   + Phần mềm xử lý dữ liệu: Polynomial least squares smoothing. Fourier smoothing. Search for Peaks (automatic and manual). Spline background subtraction. Single peak analysis (area, FWHM, centroid, background). Marquardt fit (with pseudo-Voigt and Pearson VII curves, Ka2 contribution, weighted sum of squares). Sum and multiply by a constant. Scale normalization. Zoom. Graphical windows. Overlap and comparison of diffractograms. Multiview function. Cursor scan. Creation of graphic files .BMP. ICDD-PDF2 Card Overlap. Creation of calibration curves. Analysis of unknown samples. Qualitative and quantitative phase analysis. Rietveld analysis, crystalline structural analysis, crystallite size and lattice strain, crystallinity calculation

Ứng dụng:

- Phân tích pha định tính và định lượng

- Định lượng austenit dư - auxtenit dư

- Tính toán sự kết tinh và kích thước tinh thể